- Sections
- G - Physique
- G01R - Mesure des variables électriques; mesure des variables magnétiques
- G01R 23/06 - Dispositions pour procéder à la mesure de fréquences, p.ex. taux de répétition d'impulsions; Dispositions pour procéder à la mesure de la période d'un courant ou d'une tension par conversion de la fréquence en une amplitude de courant ou de tension
Détention brevets de la classe G01R 23/06
Brevets de cette classe: 36
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Toshiba Mitsubishi-Electric Industrial Systems Corporation | 1583 |
4 |
| Samsung Electronics Co., Ltd. | 131630 |
2 |
| University of Tennessee Research Foundation | 727 |
2 |
| INL-International Iberian Nanotechnology Laboratory | 44 |
2 |
| Apple Inc. | 50209 |
1 |
| Nokia Corporation | 6965 |
1 |
| Infineon Technologies AG | 8189 |
1 |
| Advanced Micro Devices, Inc. | 5326 |
1 |
| Tsinghua University | 5426 |
1 |
| Realtek Semiconductor Corp. | 3028 |
1 |
| Hewlett Packard Enterprise Development LP | 10702 |
1 |
| Anritsu Corporation | 380 |
1 |
| Dialog Semiconductor Inc. | 266 |
1 |
| Endress + Hauser Conducta GmbH + Co. KG | 292 |
1 |
| Endress+Hauser GmbH+Co. KG | 509 |
1 |
| Hangzhou Dianzi University | 36 |
1 |
| Hiwin Mikrosystem Corp. | 88 |
1 |
| RHK Technology, Inc. | 15 |
1 |
| Schneider Electric Industries SAS | 1376 |
1 |
| United States of America AS represented by The Administrator of NASA | 364 |
1 |
| Autres propriétaires | 10 |